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Impulse Noise Test 가능유무 문의 드립니다.
게시글 정보
작성자 김경동 작성일 2021-10-08 11:38내용 출력
안녕하십니까!
양우전자 품질보증팀 김경동이라고 합니다.
당사에서 개발중인 제품의 Impulse Noise Test 가능유무 문의 드릴려고 합니다.
시험방법
Polarity & Voltage : ± 1000V
Pulse width : 50ns, 1㎲(1000ns)
REPETITION : 35ms, 1ms
Duration : 1분 30초
Coupling Mode : R_HOT,S_GND and R_GND,S_HOT
Test Mode : VARIABLE MODE TEST
판정기준
1) Set-up 설정 데이타의 변화가 없을 것.
2) Impulse 영향으로
-. 영상 : Noise가 생기는 현상은 자동 복귀 되거나, 조작으로 복귀가 되면 허용. 단,화면에 상이 겹치는 Ghost 현상은 발생하지 않아야 한다.
-. 음성 : Impulse Test중 Sound 끊이짐 및 Noise가 발생하지 않을것.
-. Touch Key :Impulse Test중 Touch Key 동작이 정상적으로 동작 할 것
(Touch Key 감도 저하 확인)
3) 부품 소자 파괴가 일어나 POWER OFF/ON시 복구되지 않는 문제 없을 것(FUSE 파손도 포함.)
감사합니다.
양우전자 품질보증팀 김경동이라고 합니다.
당사에서 개발중인 제품의 Impulse Noise Test 가능유무 문의 드릴려고 합니다.
시험방법
Polarity & Voltage : ± 1000V
Pulse width : 50ns, 1㎲(1000ns)
REPETITION : 35ms, 1ms
Duration : 1분 30초
Coupling Mode : R_HOT,S_GND and R_GND,S_HOT
Test Mode : VARIABLE MODE TEST
판정기준
1) Set-up 설정 데이타의 변화가 없을 것.
2) Impulse 영향으로
-. 영상 : Noise가 생기는 현상은 자동 복귀 되거나, 조작으로 복귀가 되면 허용. 단,화면에 상이 겹치는 Ghost 현상은 발생하지 않아야 한다.
-. 음성 : Impulse Test중 Sound 끊이짐 및 Noise가 발생하지 않을것.
-. Touch Key :Impulse Test중 Touch Key 동작이 정상적으로 동작 할 것
(Touch Key 감도 저하 확인)
3) 부품 소자 파괴가 일어나 POWER OFF/ON시 복구되지 않는 문제 없을 것(FUSE 파손도 포함.)
감사합니다.
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